14/09/2022 - 10H30 - Amphithéâtre 7 - Faculté des sciences et technologies

""Méthodologie d'optimisation de plan de test pour l'évaluation de la fiabilité de composants optoélectroniques""

Résumé :
Du fait des récents progrès liés à leur intégration (hybridation, collage direct, TSV...), les composants électroniques deviennent de plus en plus complexes. Dans ce contexte d'évolution des composants, les principaux composants concernés sont les composants de type optoélectroniques. La complexité de ces composants optoélectroniques a des conséquences sur l'étude de leur fiabilité, notamment au travers du nombre de tests à réaliser et du temps nécessaire à leur réalisation. À cela viennent se rajouter de nouvelles problématiques telles que les interactions existantes entre différents éléments (ex. diode laser, photodiode) du composant. L'objectif principal de cette thèse est donc de développer une méthodologie (générique) d'optimisation de plan de test accéléré pour l'évaluation de la fiabilité de composants optoélectroniques. Cet objectif repose sur trois verrous scientifiques majeurs. Le premier verrou s'inscrit en regard du défi d'optimisation du plan de test accéléré pour l'évaluation de la fiabilité des composants. Les deux derniers verrous scientifiques concernent plus spécifiquement la modélisation du processus de dégradation de l'élément en prenant compte des différents facteurs d'influence, et le calcul de la fiabilité d'un composant optoélectronique en prenant en compte l'interaction entre ses éléments. Pour répondre de ces verrous, nous avons proposé quatre contributions principales: (1) Investigation et formulation d'impacts de facteurs d'influence (l'auto-échauffement au niveau élément et l'interaction d'états au niveau composant) sur le processus de dégradation des éléments (diode laser, photodiode) d'un composant optoélectronique; (2) Développement de modèles de dégradation permettant de tenir compte de l'impact de ces facteurs d'influence (auto-échauffement) pour chacun des éléments; (3) Extension de chacun des modèles de dégradation proposés au niveau composant pour calculer la fiabilité d'un composant optoélectronique constitué à partir de ses éléments; (4) Développement d'un plan optimisé de tests accélérés pour chacun des composants optoélectroniques étudiés. Enfin, ces contributions ont été validées par les expérimentations sur des composants optoélectroniques étudiées au sein du CEA LETI de Grenoble.
Jury :
- Rapporteurs : Mitra Fouladirad - Professeur à Centrale Marseille
Antoine Grall - Professeur à l'Université de Technologie de Troyes
- Autres membres : Examinateurs:
-Mustapha Ouladsine, Professeur à Aix-Marseille Université.
- Amélie Ponchet-Durupt, Maı̂tre de Conférences à l'Université de Compiègne.
-Bertrand Chambion, Ingénieur chercheur au CEA LETI.